TERA K15
全光纤耦合太赫兹光谱仪

Specifications

先进的功能和优点

新功能：在<5秒内>6 THz宽带
新功能： > 100 dB动态范围
新功能：太赫兹多通道选项
新功能：太赫兹路径长度适应选项
提供额外多色场激光输出（1560 nm / 780 nm）
高分辨率选项：<0.7 GHz，选配全光延迟的1600 ps扫描窗口
可同步激光源（例如，与ASOPS或外部泵浦激光同步）
多功能，THz-TDS科研平台主力
通过网络进行自动测量和数据传输

TERA K15
光谱范围	>6 THz
动态范围	>100 dB
总扫描范围	>850 ps（更大范围选项：> 1600 ps）
太赫兹频率分辨率	<1.2 GHz（更高分辨率选项：<0.7 GHz）
天线型号	TERA15-FC*

驱动激光器技术指标
中心波长	1560 nm	780 nm
平均输出总功率**	>500 mW	>250 mW **
脉宽	<90 fs	<100 fs
用于太赫兹驱动的输出端	自由空间可选配光纤耦合输出	自由空间

系统尺寸和重量
光学部件	900 x 600 x 200 mm³, 34 kg
太赫兹电子控制	448 x 132 x 550 mm³, 8 kg
激光控制器	448 x 132 x 437 mm³, 12 kg

*有关详细规格，请参见产品数据表。
** Menlo Systems的C-Fiber 780：在780 nm至1560 nm端口之间功率比可自由调节。

Description

为获得高速宽带时域太赫兹光谱Menlo太赫兹时域光谱仪TERA K15提供了一套完整、便捷、高度灵活的太赫兹应用解决方案。TERA K15系统包括基于figure 9^®最新的锁模技术，一台波长为1560nm飞秒激光光源、附带延迟线的光纤耦合光路、一对附带太赫兹发射和探测天线、配备太赫兹光学元件的太赫兹光路、太赫兹电路和带有数据采集及分析软件（软件可以进行傅立叶光谱分析，折射率和吸收系数计算）的计算机。标准延迟线支持扫描范围大于850 ps，即优于1.2 GHz的太赫兹频率分辨率。针对更高分辨率的需求 (< 0.7 GHz)，可选配大行程(> 1600 ps)的延迟线. 通过选配双探测器支持太赫兹反射和透射结构双通道的同时测量。针对太赫兹成像应用，可以选配TERA Image扩展单元包括太赫兹数据采集和图像重建软件。

此外，通过选配电子锁相环系统SYNCRO系统支持将TERA K15的激光器重复频率与外部时钟进行同步，并提供额外独立的780nm和1560nm高功率输出端口，通过增加THz-Pump-Probe配件还可以支持光学泵浦-太赫兹探测等应用。

Options

THz Purge Box 扩展单元

产品代码: THz Purge Box

Menlo Systems为我们的太赫兹镜系统提供了一个紧凑的净化箱，用于改进无水线的太赫兹光谱。
下载 PDF: Infosheet THz Purgebox
TERA Image Extension Unit

Product Code: TERA Image

For THz imaging applications our fully automated extension TERA Image can be integrated.
ImageLab: Extended Edition THz Image Analysis

Product Code: ImageLab

Hyperspectral Image Processing Software for THz Imaging Data
Plug-in Terahertz Reflection Head Add-on for flexible THz measurement geometry

Product Code: Reflection Head
Plug-in THz reflection head with integrated parabolic mirror THz optics. Compatible with Menlo Systems' fiber-coupled THz antennas TERA15-TX-FC (Emitter) and TERA15-RX-FC (Receiver).
Download PDF: Infosheet THz Reflection Head
Reflection Guide Add-on for flexible THz measurement geometry

Product Code: Reflection Guide

THz path pivot platform for quick and flexible manual adjustment of the reflection angle, ranging from a minimal reflection angle of 38° to normal up to a stretched configuration for measurements in transmission geometry. A scale for measurement angle indication is included. The platform assures angle adjustment of the sample holder.